絕緣子超聲波探傷儀leeb510
絕緣子是發(fā)電廠和變電站運行的重要組成設(shè)備,起著支撐導(dǎo)線和絕緣的作用,其工作狀態(tài)直接影響電網(wǎng)供電安全。由于絕緣子無固有形變且韌性極低,大多數(shù)瓷絕緣子長期承受電網(wǎng)運行中的機械負(fù)荷以及風(fēng)雪日曬等惡劣天氣的影響,使其附加應(yīng)力增大而集中,導(dǎo)致內(nèi)部缺陷急速擴大,極易引發(fā)瓷絕緣子脆性斷裂,造成電網(wǎng)嚴(yán)重事故。
據(jù)國內(nèi)外統(tǒng)計資料表明,瓷瓶斷裂部位95%以上是發(fā)生在法蘭口內(nèi)30mm到與瓷體相交附近的區(qū)域,紅外線、紫外線、激光等對絕緣子可以進行帶電巡查,它們對碟型瓷絕緣子和支柱瓷絕緣子的上部能見部分可能有效,原因之一是上部的感應(yīng)電壓高,而末裙下與法蘭相交處感應(yīng)電壓非常低,且裂紋又可能埋藏在法蘭內(nèi)20~30mm處,因此無法利用有效電壓達(dá)到檢驗?zāi)康?。同時這些檢驗方法受絕緣子表面的污穢程度、負(fù)荷、檢測位置、輻射角度、方向、距離、天氣、大氣吸收以及儀器等諸多因素的影響,決定了其不能成為獨立的高壓支柱瓷絕緣子的無損檢測方法。
而超聲波檢測可以克服以上檢測方法的不足,它是利用入射角等于或接近第一臨界角的縱波在界面上產(chǎn)生波形轉(zhuǎn)換,從而會在瓷瓶近表面產(chǎn)生一束接近平行的爬波,當(dāng)遇到有裂紋等缺陷時,爬波會被反射回來,通過信號轉(zhuǎn)換傳送到儀器,在儀器顯示屏上會有獨立的缺陷回波顯示。通過觀察儀器就可以很容易地實行對絕緣子的無損檢測。這種方法除了能克服以上方法的不足外,最大優(yōu)點是簡單、直觀、有效。
據(jù)統(tǒng)計,從斷裂瓷瓶的剖面看,都明顯存在初始裂紋,初始裂紋長度一般在30~50mm之間,對大量在役或退役瓷絕緣子檢測后發(fā)現(xiàn),鑄鐵法蘭口內(nèi)深20mm至外漏10mm的區(qū)域內(nèi)最容易發(fā)現(xiàn)檢測區(qū)域。
針對目前絕緣子的運行狀況,公司在生產(chǎn)多年的超聲波探傷儀基礎(chǔ)上研發(fā)了專門針對電力用戶的高端機型絕緣子,該機型可以對電力系統(tǒng)絕緣子、母線、鋁排等線路設(shè)備進行無損探傷,其性價比極高。
詳細(xì)介紹
【主要功能】
● 高精良定量、定位,適合較近和較遠(yuǎn)距離探傷的要求;
● 近場盲區(qū)小,適合小管徑、薄壁管探傷的要求;
● 自動校準(zhǔn):一鍵式自動校準(zhǔn),操作便捷,自動測試探頭的“零點”、“K值”、“前沿”及材料的“聲速”;
● 自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅、當(dāng)量dB、孔徑ф值);
● 自由切換三種標(biāo)尺(深度d、水平p、距離s);
● 自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率;
● φ值計算:直探頭鍛件探傷,找準(zhǔn)缺陷最高波自動換算孔徑ф值,大平底自動計算;
● 100個單獨探傷通道(可擴展),可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn),現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊;
● 可自由存儲、回放500幅A掃波形及數(shù)據(jù);
● DAC、AVG自動生成并可以分段制作,取樣點不受限制,并可進行修正與補償;
● 13個內(nèi)置探傷標(biāo)準(zhǔn)可調(diào)出;
● 可以自由輸入任意行業(yè)標(biāo)準(zhǔn);
● 發(fā)射脈沖寬度和強度可調(diào);
● 與計算機通訊,實現(xiàn)計算機數(shù)據(jù)管理,并可導(dǎo)出Excel格式、A4紙張的探傷報告;
● IP65標(biāo)準(zhǔn),堅固磨損低,防水防塵,抗干擾能力好;
● 26萬色真彩屏超高亮顯示,亮度可調(diào),適合強光、弱光的工作環(huán)境;
● 性能安全環(huán)保鋰電池供電,可連續(xù)工作10小時。
● 實時時鐘記錄:實時探傷日期、時間的跟蹤記錄,并存儲;
● 掉電保護,存儲數(shù)據(jù)不丟失;
● 探傷參數(shù)可自動測試或預(yù)置;
● 數(shù)字抑制,不影響增益和線性;
● 增益補償:對表面粗糙度、曲面、厚工件遠(yuǎn)距離探傷等因素造成的Db衰減可進行修正。
真正的三防設(shè)計,可以保障用戶在復(fù)雜的現(xiàn)場和野外不受雨水、油污、粉塵等的侵蝕,讓探傷儀的使用壽命大大延長
【輔助功能】
● 角度和K值兩種輸入方式
● 回波次數(shù)分析
● 電源狀態(tài)指示
● 閘門聲光報警
● DAC聲光報警
● 屏幕的凍結(jié)和解凍
● 時鐘顯示
【產(chǎn)品參數(shù)】
名稱 |
技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍(mm) |
掃描范圍(mm):0~6000 檔級:2.5,5,10,20, 30,40,50,60,70,80,90, 100,150,200, 250, 300, 350, 400, 450, 500,600,700,800,900,1000,2000,3000,4000,5000,6000。 調(diào)節(jié)步距:0.1mm(2.5 mm~99.9mm),1mm(100mm~6000mm) |
脈沖移位(ms) |
脈沖移位(ms):-20~+3400 檔級:-20,-10,0.0, 10, 20, 50,100,150,200,250,300,350,400,450,500, 600, 700,800,900,1000,1500,2000,2500,3000,3400。 調(diào)節(jié)步距:0.1(-20ms~999.9ms),1(1000ms~3400ms) |
探頭零點(ms) |
探頭零點:0.0~99.99 調(diào)節(jié)步距:0.01 |
材料聲速(m/s) |
材料聲速:1000~15000 7個固定聲速:2260,2730,3080,3230,4700,5900,6300 調(diào)節(jié)步距:1 |
工作方式 |
單探頭(收、發(fā)),雙探頭(一收一發(fā)),透射(透射探頭) |
頻率范圍(MHz) |
寬帶 0.5–15 |
增益調(diào)節(jié)(dB) |
0~110 調(diào)節(jié)步距:0.0,0.1,0.5,1,2,6,12 |
線性抑制 |
屏高的0%~80%,步距: 1% |
垂直線性誤差 |
垂直線性誤差不大于4% |
水平線性誤差 |
在掃描范圍內(nèi),不大于0.2% |
探傷靈敏度余量 |
360dB |
動態(tài)范圍 |
332dB |
報警 |
進波報警、失波報警 |
顯示屏 |
顯示屏: 高亮度彩色平板顯示器 |
A-Scan顯示區(qū)域 |
全屏或局部 A-Scan顯示凍結(jié)和解凍 A-Scan填充 |
探傷通道 |
100個 |
數(shù)據(jù)存儲 |
500幅 A-Scan圖形
|
與PC機通訊接口標(biāo)準(zhǔn) |
USB |
測量單位 |
Mm/inch |
電源適配器 |
輸入100V~240V/50Hz~60Hz 輸出9V/1.5A |
電池 |
鋰(Li)電池4×3.6V 4800mAh |
工作溫度(℃) |
-10~50 |
工作濕度(RH) |
20%~90% |
接口類型 |
BNC |
外型尺寸(mm) |
260×140×50 |
重量(kg) |
1.0 |
選配 |
探頭、標(biāo)準(zhǔn)試塊、筆記本電腦、PC通訊軟件、BNC電纜 |
(標(biāo)準(zhǔn)塊不是標(biāo)配,屬于選配,根據(jù)行業(yè)來選配)
【標(biāo)準(zhǔn)配置】
主機 |
1臺 |
直探頭 |
1個 |
斜探頭 |
1個 |
電源適配器 |
1個 |
探頭連接線 |
1個 |
使用說明書 |
1本 |
產(chǎn)品包裝箱 |
1個 |
合格證、裝箱卡、保修卡 |
1套 |
【絕緣子探頭型號-選配】
探頭分類 |
探頭晶片尺寸 mm ×mm |
探頭弧面對應(yīng)直徑(mm) |
適用工件外徑 |
頻率 |
適合間距(mm) |
JYZ-1爬波探頭 |
10 ×12×2 |
Φ100 |
<Φ100 |
2.5P |
>15 |
爬波探頭 |
10 ×12×2 |
Φ160 |
>Φ140 |
2.5P |
>15 |
爬波探頭 |
10 ×12×2 |
Φ180 |
>Φ160 |
2.5P |
>15 |
爬波探頭 |
10 ×12×2 |
Φ240 |
>Φ220 |
2.5P |
瓷套探傷專用 |
爬波探頭 |
10 ×12×2 |
Φ260 |
>Φ240 |
2.5P |
瓷套探傷專用 |
JYZ-2爬波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ100 |
<Φ100 |
2.5P |
>12 |
爬波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ180 |
>Φ160 |
2.5P |
>12 |
爬波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ200 |
>Φ180 |
2.5P |
>12 |
爬波探頭 |
6 ×10×2 |
Φ160 |
>Φ140 |
2.5P |
>12 |
爬波探頭 |
6 ×10×2 |
Φ180 |
>Φ160 |
2.5P |
>12 |
小角度縱波探頭 |
8 ×10 |
Φ140 6° |
>Φ120 |
5P |
>12內(nèi)部缺陷專用 |
小角度縱波探頭 |
8 ×10 |
Φ160 6° |
>Φ140 |
5P |
>12內(nèi)部缺陷專用 |
小角度縱波探頭 |
8 ×10 |
Φ180 6° |
>Φ160 |
5P |
>12內(nèi)部缺陷專用 |
小角度縱波探頭 |
8 ×10 |
平 面6° |
>Φ200 |
5P |
>12內(nèi)部缺陷專用 |
小角度縱波探頭 |
8 ×10 |
Φ180 8° |
>100 |
5P |
>12內(nèi)部缺陷專用 |
雙晶橫波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ160 |
>Φ140 |
5P |
瓷套探傷專用 |
雙晶橫波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ180 |
>Φ160 |
5P |
瓷套探傷專用 |
雙晶橫波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ200 |
>Φ180 |
5P |
瓷套探傷專用 |
雙晶橫波探頭 |
8 ×10×2 |
Φ220 |
>Φ200 |
5P |
瓷套探傷專用 |
縱波直探頭 |
Φ10 |
平 面 |
|
5P |
聲速測定用 |
【試塊型號-選配】
試塊名稱 |
型 號 |
規(guī) 格 |
使用范圍 |
校準(zhǔn)試塊 |
JYZ-BXⅠ |
360°旋轉(zhuǎn)/帶支架 |
支柱絕緣子專用 |
校準(zhǔn)試塊 |
JYZ-BXⅡ |
瓷套專用 |
|
瓷柱對比試塊 |
JYZ-G |
Φ120瓷柱聲速≥6300m/s |
參考對比 |